2008 : Conseguimento della certificazione “National Instruments TestStand Developer”.

2007 : Conseguimento della certificazione “National Instruments LabWindows/CVI Developer” e “National Instruments LabVIEW Developer”.
Superamento degli esami di certificazione Microsoft 70-270, 70-271 e 70-272 (relativi a Windows XP Professional).

2006 : Conseguimento della certificazione “National Instruments Certified LabVIEW Associate Developer”.

2003 : Conseguimento dell’abilitazione all’esercizio della professione di Ingegnere, con un punteggio di 100/100.

Anno Accademico 2001/2002 : Conseguimento della laurea in ingegneria elettronica, presso il Politecnico di Milano - Facoltà di Ingegneria. Votazione di 100/100 e lode.
Tesi sperimentale su un sistema di visione e di videosorveglianza con elaborazione video e controllo mediante DSP e CPLD.

1996 : Conseguimento del diploma di Perito Industriale Capotecnico per l’Elettronica Industriale con il punteggio di 60/60, presso l’Istituto tecnico “A. Bernocchi” di Legnano (MI).

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